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  • ZKY-2000高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    ZKY-2000高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • HDZK-Ⅳ高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    HDZK-Ⅳ高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • BY3650高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    BY3650高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • GKC-B4高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    GKC-B4高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • TLHG-302高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    TLHG-302高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • ZKY-2000 高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    ZKY-2000 高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • GYZKZ-V型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    GYZKZ-V型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • DZK-H高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    DZK-H高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • TG2240高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    TG2240高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • YZK23高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    YZK23高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • HTZK-IV高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    HTZK-IV高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • H22180高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    H22180高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • ZK-Ⅳ高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    ZK-Ⅳ高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • MHY-22180高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    MHY-22180高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • PSZKC高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    PSZKC高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • ZKD-III高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    ZKD-III高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • XH-ZKC高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    XH-ZKC高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • LCZK36III高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    LCZK36III高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • SX-3000高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    SX-3000高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • BDL高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    BDL高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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